中国供应商 商业资讯
  • 产品
  • 公司
  • 求购
首页 > 网商动态 > 正文

史密斯英特康发布Volta 180系列探针头提升晶圆测试方案性能

史密斯英特康发布Volta 180系列探针头提升晶圆测试方案性能

伦敦2020年11月30日 -- 史密斯英特康作为全球***的半导体测试解决方案供应商,今天发布全新 Volta180 测试头扩大Volta产品线,支持市场对更小间距的晶圆尺寸,晶圆级芯片封装和已知合格芯片(Known Good Die)的测试需求。

Volta 180 探针头
Volta 180 探针头

信息时代的迅猛发展催生了对消费和商业电子产品巨大的需求。如何在有限的应用空间增加更多的功能并兼具成本效益,这一需求促进了晶圆级封装和已知良好芯片测试的巨大增长。 Volta 产品系列是史密斯英特康增强的解决方案,可以对***小引脚间距180um 的晶圆尺寸封装及晶圆级封装进行快速而可靠的测试,以确保它们符合规格并满足终端产品应用性能。

全新的Volta180系列引脚***小间距(PITCH)降至180um,是增强的晶圆级别测试解决方案,具备如下性能优势:

  • Volta 180可以满足在750,000次寿命测试下仍保持低且稳定的电阻,从而提供高精度的测量。
  • ***的针头共面性可满足64 个工位,5000根探针同时进行测试,以提高生产效率
  • 模组化的针头设计能确保维护时可进行快速更换,停机时间几乎为零。
  • 全探针阵列设计允许现场根据不同产品配置探针位置,使得单个Volta 180探针头可测试多个产品。

史密斯英特康总裁 Paul Harris说,“技术性的挑战和封装成本的上升推动了晶圆级封装和已知合格芯片(KGD)测试需求的增长。史密斯英特康的 Volta180 系列兼具高性能和高性价比满足市场需求,会助力我们的合作伙伴大大提升测试效率和测试性能。”

更多详情,请访问史密斯英特康 Volta 系列探针头产品页面
https://www.smithsinterconnect.cn/zh-hans/products/volta-xi-lie-tan-zhen-tou

免责声明
• 
本文仅代表作者个人观点,本站未对其内容进行核实,请读者仅做参考,如若文中涉及有违公德、触犯法律的内容,一经发现,立即删除,作者需自行承担相应责任。涉及到版权或其他问题,请及时联系我们 kefu@mail.china.cn
分享到:
关注我们
扫描并关注~
查看最新资讯活动推送
猜你想购